首先我们了解下基体金属特性：标准片的基体金属的磁性和表面粗度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
（1）边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
（2）‚基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。
（3）ƒ曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。
（4）磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作
（5）测头取向：测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直。
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的
面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
另外我们需要注意的是测厚仪表面清洁度，一般的，在测量前，应**表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，
但不要除去任何覆盖层物质。