HLP-01,试验探棒

TFP-01,Test Finger Probe (IEC试验指),符合: IEC, EN,CSA,UL标准.(品牌:美国.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(关节试验指),符合UL标准.(品牌:美国.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(UL关节试验指)

ACCESSIBILITY PROBES 试验探针

FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS

Model HLP-01: 4.0mm Hazardous Live Parts Probe(试验探棒)

Used to verify protection against access to hazardous parts through top openings. Meets IEC, EN, UL and CSA Standards including IEC 1010, EN61010-1, UL3101-1, and CSA 1010-1. The handle and stop face are made of Delrin. The rod is made of stainless steel.

美国.ED&D产品服务于:IBM ，美国航空暨太空总署，英代尔，苹果， NCR ，索尼公司，太阳，飞利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托罗拉， Mattel ，戴尔,3 Com 等公司;专为UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等试验室提供检测产品.

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HLP-01,试验探棒

HLP-01,试验探棒 符合:IEC1010,EN61010-1, UL3101-1,CSA 1010-1标准(品牌:美国.ED&D).TFP-01,Test Finger Probe (IEC试验指),符合: IEC, EN,CSA,UL标准

HLP-01,试验探棒符合:IEC1010,EN61010-1, UL3101-1,CSA 1010-1标准(品牌:美国.ED&D).TFP-01,Test Finger Probe (IEC试验指),符合: IEC, EN,CSA,UL标准